台北 | 新北 | 建昌 | NDT | MPI | FPI

AI智慧探傷非破壞檢測

智慧缺陷探傷系統

針對不同產業別之工件與識別等相關工作,進行客製化自動光學AI辨識系統開發

  • 採AI-based的軟體與CCD整合
  • 結合磁檢或螢檢設備,進行缺陷識別與缺陷類型原因分析
  • 建置產品缺陷的大數據與深度學習系統平台,使企業具備產品品質的競爭優勢

磁探設備 + iCheck智慧機器人,全自動探傷解決方案

  • 初期可減少檢驗人員工作負擔
  • 中長期可朝向省人力與無人化,iCheck可自動執行智慧磁探與螢檢探傷
  • 與工廠的生產系統結合,歸納分析出導致缺陷產生之原因

台北 | 新北 | 建昌 | NDT | MPI | FPI

error: 內容受到保護!!