磁檢配件
接觸銅網/接觸墊片
產品簡介：用以確保磁粉探傷中，不同大小和形狀的工件能夠和磁檢設備/磁檢系統的頭尾座的良好接觸。
磁檢中心導棒
產品簡介：實心銅導棒能幫助磁化空心工件實現磁粉探傷之中心導體/導棒法。
符合規範：ASTM E1444，ASTM E709。
磁檢接觸塊
產品簡介：對於太大或太重的工件，無法放置在磁檢設備/磁檢機系統上時，使用接觸塊進行機外檢測。將接觸塊夾持在頭尾座之間，能夠將磁化充磁電流輸出至接觸棒組或電纜上。
符合規範：ASTM E1444，ASTM E709。
磁檢小工件磁化夾持接觸治具/適配器
產品簡介：使磁粉探傷設備能夠對如螺栓、螺絲等小工件進行磁粉探傷檢測。
磁檢接觸棒組和磁檢連接夾頭
產品簡介：可磁化各種尺寸和形狀的工件。
符合規範：ASME BPVC，ASTM E1444，ASTM E709。
磁檢離心管/梨形試管
產品簡介：用於測量螢光磁粉/懸液濃度。
符合規範：ASTM E1444，ASTM E709。
磁粉液攪拌噴淋系統
產品簡介：適用於大型工件的濕式磁粉液檢測。
符合規範：ASME BPVC，ASTM E1444，ASTM E709。
磁粉液/磁浴循環噴灑系統
產品簡介：適用大範圍面積工件的施灑磁粉液。
透明護目鏡
產品簡介：探傷檢測作業防護UV黑光使用。
黃色護目鏡
產品簡介：探傷檢測作業防護UV黑光使用。
磁粉吹塵器
產品簡介：用於清除多餘的磁粉。
磁粉探傷指示器
非校驗型10高斯計/剩磁計
產品簡介：測量磁粉探傷過程工件退磁後的剩磁。
符合規範：ASME BPVC，ASTM E709，ASTM E14449。
校驗型20 高斯計/剩磁計
產品簡介：測量磁粉探傷過程工件退磁後的剩磁。
符合規範：NADCAP，ASME BPVC，ASTM E709，ASTM E1444。
校驗型10高斯計/剩磁計(附校驗報告)
產品簡介：測量磁粉探傷過程工件退磁後的剩磁。
符合規範：NADCAP，ASME BPVC，ASTM E709，ASTM E1444。
磁粉探傷試塊/試片
磁場方向指示計(磁檢八角試塊)
產品簡介：用於檢測和測量磁粉探傷過程中的磁場方向。不允許作為磁粉探傷設備的性能靈敏度驗證使用。
符合規範：ASTM E1444，ASTM E709。
磁檢磁場指示器
產品簡介：用於檢測和測量磁粉探傷過程中的磁場方向。
符合規範：NADCAP，ASME BPVC，ASTM E709，ASTM E1444，ASTM E3024。
磁檢QQI靈敏度試片
產品簡介：帶有人工缺陷的標準磁粉檢測試片，用以確定磁場方向和強度。
符合規範：NADCAP，AS 5371，ASME BPVC Section V Article 7，ASTM E709，ASTM E1444，ASTM E3024。
磁檢磁條卡Type A MSC
產品簡介：Type A是高保磁力/磁性的磁條卡，用於評估濕式螢光磁粉探傷浴和磁粉的品質。
符合規範ASTM E1444，ASTM E709。
磁檢磁條卡Type 2000 MSC
產品簡介：Type 2000磁條卡用於立即評估濕式螢光磁粉探傷浴的性能。
符合規範：ASTM E1444，ASTM E709。
磁粉探傷裂紋試塊Reference Block Type 1 (MTU-3)
產品簡介：帶有人工缺陷的標準磁粉檢測試片，用以確定磁場方向和強度。
符合規範：ASTM E1444，ASTM E709。
磁檢吸舉力磁軛試塊TB-10
產品簡介：交流電磁軛吸舉力測試使用。1塊10 lb，可追朔NIST。
符合規範：ASTM E1444，ASTM E709。
磁檢吸舉力磁軛試塊TB-10S-4
產品簡介：直流電磁軛吸舉力測試使用。1塊10 lb，可追朔NIST。
符合規範：ASTM E1444，ASTM E709。
磁檢吸舉力磁軛試塊TB-10S-5
產品簡介：永久磁軛吸舉力測試使用。1塊10 lb，可追朔NIST。
符合規範：ASTM E1444，ASTM E709。
磁檢工具鋼環Tool Steel Ring AS 5282
產品簡介：用於磁粉探傷設備，以中心導棒方式進行磁檢設備之直流性能測試。用於每日磁檢設備(磁浴、黑光燈、磁場)的系統性能測試。
符合規範：NADCAP，AS 5282，ASME BPVC Section V Article 7，ASTM E709，ASTM E1444，ISO 9934，ASTM E3024。
磁粉探傷測試塊
產品簡介：人工缺陷測試標準樣本。
符合規範：NAVSEA T9074-AS-GIB-010/271，ASME BPVC Section V Article 7，ASTM E709，ASTM E1444，ASTM E3024。
磁粉探傷儀表
磁檢霍爾高斯計
產品簡介：用於直流和交流電場中的磁場強度測量。
符合規範：IEEE-1987.2，SCPI-1991，ASTM E709，ASTM E1444。
磁檢快速斷電測試器/激磁時間測試器QB2- Plus
產品簡介：透過判斷快速斷電功能和校驗磁化時間，為磁粉探傷檢測設備提供量化的性能驗證，以提高磁粉探傷檢測品質。
符合規範：NADCAP，ASTM E709，ASTM E1444，ISO 9934，ASTM E3024。
磁檢數位式電流校驗組
產品簡介：確保磁粉探傷設備的準確性和可重復性，以符合規範要求。
符合規範：NADCAP，ASTM E709，ASTM E1444，ASTM E3024，ASME BPVC Section V Article 7，ISO 9934。
XRP-3000黑白光燈照度計
產品簡介：可同時量測紫外光與可見光強度。
符合規範：ASTM E3022，ASTM E1417，ASTM E1444，ASTM E709。
黑/白光燈照度計
產品簡介：用於測量黑光燈紫外線強度和白光照度的黑光強度計和白光照度計，及紫外線保護眼鏡等。
符合規範：
黑光燈照度計-ASTM E3022，ASTM E2297，ISO 3059，ASTM A275，ASTM E165，ASTM E709，ASTM E1208 / E1209 / E1210 / E1219，ASTM E1417，ASTM E1444，ASTM E3024，ASME BPVC Section V，ISO 3452，ISO 9934，ANSI / API 6A，NADCAP AC7114/1，NADCAP AC7114/2。
白光燈照度計-ASTM E2297，ISO 3059，ASTM A275，ASTM E165，ASTM E709，ASTM E1208 / E1209 / E1210 / E1219，ASTM E1220 / E1418，ASTM E1417，ASTM E1444，ASTM E3024，ASME BPVC Section V，ISO 3452，ISO 9934，ANSI / API 6A，NADCAP AC7114/1，NADCAP AC7114/2
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